Wafer AOI
Wafer AOI
設(shè)備型號(hào)：WIN-200，WIN-300
外形尺寸：1600*2600*1800mm
檢測(cè)內(nèi)容：4/6/8 inch Wafer，可擴(kuò)展支持8~12inch
平臺(tái)精度：氣浮平臺(tái)，精度可達(dá)<0.05um
成像配置：缺陷檢測(cè)能力:100nm@明場(chǎng)
- 姓名
- 電話號(hào)碼
- 電子郵箱
- 公司名稱
- 地址
- 留言*
上一個(gè)：
Package AOI
下一個(gè)：
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡KYKY-EM8100
|
地址：
電話：18250731801 
郵箱：yangzhenliang@xmshentan.com
版權(quán)所有 Copyright ?2022 廈門深探科技有限公司（www.xmshentan.com） 工信部備案號(hào)：閩ICP備2022016324號(hào)-1 公安部備案號(hào)：35021302000526 技術(shù)支持：銳信互動(dòng)